AVX鉭電容的耗散因素(D.F.)
耗散因數(shù)測量的切線損耗角(TAN),以百分比表示。測量DF是開展測理橋梁供應(yīng)一個0.5V RMS120Hz正弦信吃,免費(fèi)諧波與偏見2.2Vdc。DF值是溫度和頻率依賴 。注意:對于表面貼裝產(chǎn)品所允許的最大DF值表示的收視率表是很重要的。這些限額會見了由組件后基板上焊接。
AVX鉭電容的損耗角正切(TAN)
這是一個在電容器的級量損耗的測量。它表示為棕褐色,是電容器的功率損耗其無功功率分為一組指定的正統(tǒng)統(tǒng)電壓頻率。也用的術(shù)語是功率因素,損耗因子和介電損耗。COS(90-)是真正的功率因數(shù)。使用測量進(jìn)行測量譚橋梁,提供一個0.5V RMS120Hz的正弦信號,免費(fèi)諧波的2.2Vdc的偏見。
耗散因數(shù)的頻率依賴性
隨著頻率的增加損耗因素所示鉭和OxiCap®電容器的典型曲線相同的;
耗散與溫度的關(guān)系
耗散系數(shù)隨溫度變化的典型曲線表演。這些地塊是鉭和OxiCap®相同電容器。對于最高限額,請參閱評分表